Микроскопы АО "ЛОМО"
и ООО "ЛОМО-Микросистемы"
Комплектующие, цифровые камеры, сервис
8 (812) 329–41–74
СПб, ул. Чугунная д.20
e-mail:
Микроскоп люминесцентный инвертированный НИБ-ФЛ НИБ-ФЛ
Исследование объектов в свете видимой люминесценции.
Макроскоп цифровой МСП-3D-М МСП-3D-М
Наблюдение объектов под углом 45 градусов
моторизированное управление.

Продукция / Микроскопы / Измерительные микроскопы /

Микроинтерферометр ЛОМО МИИ-4М

Микроинтерферометр ЛОМО МИИ-4М

Микроинтерферометр Линника - бесконтактный оптический прибор. Предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Интерференционную картину можно наблюдать как в белом, так и в монохроматическом свете.

Измерение параметров шероховатости полированных и доведенных поверхностей, а также толщин пленок по высоте уступов, образованных краем пленки, производят с помощью винтового окулярного микрометра МОВ-1-16х или фотоэлектрического окулярного микрометра ФОМ-2-16х* с автоматической обработкой результатов измерений.

* - Приобретается по дополнительному заказу.

Купить ЛОМО МИИ-4М
Цена зависит от комплектации прибора

Производство: АО "ЛОМО", г. Санкт-Петербург

Отличительные особенности:

  • Использование микроинтерферометра в сочетании с фотоэлектрическим окулярным микрометром позволяет повысить точность измерения параметров шероховатости в два раза и производительность процесса измерения в 10-15 раз.
  • В качестве источника света в микроинтерферометре используется светодиод белого свечения, который обеспечивает наилучший контраст и яркость интерференционных полос, а также высокую чувствительность метода и стабильность интерференционной картины.
  • Низкое питающее напряжение светодиода, отсутствие нагрева и высоких пусковых напряжений, а также отсутствие хрупких элементов гарантируют высокий уровень безопасности при эксплуатации.

Области применения:

  • Машиностроительная промышленность;
  • Научно-исследовательская деятельность институтов, занимающихся вопросами качества поверхностей.

Таблица характеристик:

Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax, Rz и толщины пленок, мкм 0,1 - 0,8
Видимое увеличение микроскопа, крат 500х
Линейное поле зрения в пространстве предмета, мм 0,3

Для дополнительного заказа: