+7 (812) 329-41-74
+7(812)329-41-74

Световые металлографические микроскопы

Металлографические микроскопы стоят особняком в широкой линейке приборов для микроскопии, ибо позволяют исследовать в отраженном свете полупрозрачные и непрозрачные материалы, а также металлические структуры, с которыми нельзя работать с большей частью световых микроскопов. Подобные приборы нашли широкое применение в металлургии, минералогии, геологии, археологии и микроэлектроники. Причем, металлографические микроскопы используется не только в лабораториях указанных сфер, а и непосредственно в производстве, например, на предприятиях радиоэлектронной промышленности. Наиболее часто используемый объект исследования в таких микроскопах представляет собой металлическую, тонко срезанную пластину, поверхность которой прошла тщательную шлифовку. Металлографические микроскопы для работы в отраженном свете позволяют обнаруживать различные дефекты в структуре металла, а также получать данные о неметаллических включениях и металлических фазах, так называемый, анализ частиц, и данные о расположении и размере зерен металла. Кроме этого, с помощью подобных приборов для микроскопии можно выявить ущербность металла — трещины, раковины и другие структурные повреждения.

Производители предлагают два типа металлографических микроскопов — прямые и инвертированные, которые отличаются между собой расположением окуляров, насадок и объективов относительно исследуемой пробы. Поскольку указанные типы световых микроскопов имеют некоторые различия, на каждом из таких микроскопов следует остановиться подробней.

Прямые световые металлографические микроскопы

Широко используются для исследований заранее подготовленных небольших образцов, анализ которых возможен только на ограниченной площади. Как правило, исследуемые объекты представляют собой срезы непрозрачных объектов, тонкие шлифы, сплавы и различные металлические объекты, которые предварительно шлифуют. Подобные приборы характеризуются объективами с малыми рабочими расстояниями и небольшим предметным столом, над которым непосредственно располагается наблюдательная часть металлографического микроскопа. Целью исследований таких микроскопов является определение состава проб и их внутренней структуры: выявление дефектов кристаллического строения и микродефектов; общий анализ поверхности; определение фаз металла и т. п. Прямые световые металлографические микроскопы нашли свое применение в минералогии, петрографии, металлографии, металлургии и других областях, где основными объектами исследований являются различные металлы и непрозрачные поверхности.

Инвертированные металлографические микроскопы

Оборудование для световой микроскопии, которое по ряду характеристик превосходит прямые металлографические микроскопы, ибо позволяет исследовать относительно габаритные и массивны пробы. Эта способность прибора заложена в его конструкции — объектив находится под предметным столиком, что позволяет класть на него предметы практически любого размера. При этом, пробы размещают исследуемой стороной вниз. Также, с помощью инвертированных металлографических микроскопов можно проводить различные манипуляции с пробами: использовать паяльник, пинцет и другие инструменты. Как и прямые, инвертированные микроскопы для работы в отраженном свете предназначены для исследования срезов и шлифов металлов, а также других непрозрачных объектов. Приборы нашли широкое применение в таких областях, как радиоэлектроника, точное машиностроение, металлургия, минералогия, петрография и т. д. Также используются на различных производствах в качестве инструмента сборочного процесса. В настоящее время широко используются цифровые аналитические комплексы, созданные на базе высокоразрешающих световых металлографических микроскопов, цифровых видеокамер и ПЭВМ, позволяющих проводить качественный и количественный анализ изображения структур объектов по специальным прикладным программам.

Многие из последних моделей световых металлографических микроскопов поставляются на рынок в комплекте с анализатором и поляризатором для проведения исследования проб в поляризованном свете. Кроме этого, указанное дополнительное оборудование позволяет наблюдать за объектом в темном поле, что дает возможность получать более качественные результаты.